轴类尺寸光学测量系统 Opticline C2000 – C900 系统

日期：2025-08-11

OpticlineC2000–C900系统特征

–测量瞬间完成，非常迅速；测量精密，精度等级达到μ级

–测量时摄像头双向探测，可探测的工件直径可达80mm

–光学测量系统具有独一无二的缩放功能，所以在测量最大直径为140mm的工件时分辨率和质量也丝毫不受损失

–头架和尾架的设计独特，工件更换迅速，精度高

–工件全自动定位，简单方便

–数据传输不仅迅速，而且实时处理

–具有自监控功能，既适用于精测室，也适用于生产现场

–摄像头具备IP52防护等级，系统稳定，维护简单

Opticline C产品系列

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