布鲁克

DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）

日期：2025-08-11

仪器简介

第十代探针式表面轮廓仪

布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)设计创新,实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达5。这项测量性能的提高，达到了过去四十年Dektak体系技术创新的顶峰，更加稳固了其行业中的领先地位。不论应用于研发还是产品测量，在研究工作中的广泛使用使得DektakXT的功能更强大,操作更简便易行，检测过程和数据采集也更加完善。(探针式表面轮廓仪)的技术突破，实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。